Обнаружение, анализ и классификация электрических устройств и их компонентов на рентгеновских изображениях с использованием алгоритмов обработки изображений и машинного обучения
Аннотация
Цель исследования - изучение и применение методов анализа изображений, обнаружения объектов на данных, полученных с рентгеновских сканеров с двумя уровнями энергии, для поиска электронных приборов среди объектов сканирования, нахождения аномалий на изображении электронного прибора, идентификации электронного прибора. Научная новизна заключается в разработке и апробировании нового метода анализа полученных с рентгеновского сканера изображений электрических устройств, нового математического метода поиска объектов на изображениях. В результате предложены и разработаны новые алгоритм обработки рентгеновских изображений, метод поиска объектов на изображениях; разработано программное обеспечение для работы со сканером; собрана база данных изображений и описаний электрических устройств.
The aim of the research is studying and applying various image processing and object detection algorithms to data, acquired using dual-energy X-ray scanners, for detection of electronic devices, device abnormality analysis and device identification. The research presents a new methodology for the detection and identification of complex electronic structures and objects from penetrating imagery technology. The challenge posed by the thickness and material properties of electronic components requires that the processing of X-ray images produced by standard scanners to be invariant to pixel intensity. Both, X-ray image analysis algorithm and object detection method were invented, implemented in a software and applied on real data. Results show its potential for producing accurate detection and identification of complex electronic structures.
The aim of the research is studying and applying various image processing and object detection algorithms to data, acquired using dual-energy X-ray scanners, for detection of electronic devices, device abnormality analysis and device identification. The research presents a new methodology for the detection and identification of complex electronic structures and objects from penetrating imagery technology. The challenge posed by the thickness and material properties of electronic components requires that the processing of X-ray images produced by standard scanners to be invariant to pixel intensity. Both, X-ray image analysis algorithm and object detection method were invented, implemented in a software and applied on real data. Results show its potential for producing accurate detection and identification of complex electronic structures.