Применение сканирующей электронной микроскопии и метода дифракции отраженных электронов (EBSD-SEM) для исследования деформаций в цирконе, апатите и монаците
Аннотация
Работа состоит из 50 страниц, 2 таблиц, 40 рисунков, 22 источников
Ключевые слова: циркон, монацит, апатит, деформации, кристаллическая структура, высокие давления, астроблема, сканирующая электронная микроскопия.
Объект ВКР – циркон, апатит, монацит.
Цель работы – оптимизация приборных параметров и алгоритма, а также применение метода дифракции отраженных электронов для поиска и исследования деформаций в акцессорных минералах пород метеоритных кратеров.
Методы исследования: дифракции отраженных электронов (EBSD-SEM).
Результатом работы стало оптимизация приборных параметров и условий регистрации BSE-, SE-, CL- и FSE-изображений и разработка алгоритма поиска минералов циркона, апатита и монацита в породах метеоритных кратеров.
Область применения полученных результатов – сканирующая электронная микроскопия.
Ключевые слова: циркон, монацит, апатит, деформации, кристаллическая структура, высокие давления, астроблема, сканирующая электронная микроскопия.
Объект ВКР – циркон, апатит, монацит.
Цель работы – оптимизация приборных параметров и алгоритма, а также применение метода дифракции отраженных электронов для поиска и исследования деформаций в акцессорных минералах пород метеоритных кратеров.
Методы исследования: дифракции отраженных электронов (EBSD-SEM).
Результатом работы стало оптимизация приборных параметров и условий регистрации BSE-, SE-, CL- и FSE-изображений и разработка алгоритма поиска минералов циркона, апатита и монацита в породах метеоритных кратеров.
Область применения полученных результатов – сканирующая электронная микроскопия.