Анализ распределения пьезоэлектрического отклика в пространстве селективного усилителя для различных электромеханических материалов
Аннотация
Работа посвящена исследованию особенностей поведения электромеханических сигналов, возникающих под воздействием электрического поля зонда сканирующего микроскопа в пространстве селективного усилителя.
Реализовано программное обеспечение, позволяющее строить распределение пьезоэлектрического отклика в пространстве селективного усилителя, выделять на изображении области, соответствующие локальным максимумам интенсивности в пространстве селективного усилителя; предложен алгоритм коррекции данных сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика.
Реализовано программное обеспечение, позволяющее строить распределение пьезоэлектрического отклика в пространстве селективного усилителя, выделять на изображении области, соответствующие локальным максимумам интенсивности в пространстве селективного усилителя; предложен алгоритм коррекции данных сканирующей микроскопии пьезоэлектрического отклика.