Исследование поверхности керамических материалов методами зондовой микроскопии

Бабинов Семен Андреевич

Аннотация


НАНОТЕХНОЛОГИИ, СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ, СКАНИРУЮЩАЯ ТУНЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ, АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ, ПРОФИЛОМЕТР Объектом исследования данной работы являются токопроводящие образцы и образцы без протекания какого-либо тока. Цель данной работы исследование поверхности керамических материалов методами зондовой микроскопии. В процессе работы проводились экспериментальные исследования некоторых образцов с помощью сканирующего мультимикроскопа. Мультимикроскоп СММ-2000 предназначен для научных исследований и для учебных целей, совмещая в себе надёжность и наглядность работы с высокими техническими характеристиками. Дипломная работа оформлена согласно ГОСТ 7.32–2017.