Структура и динамика решетки тонких пленок магний-алюминиевой шпинели
Аннотация
Пояснительная записка 72 с., 42 рис., 7 табл., 26 источн., 3 прил.
СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА, ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ПОКРЫТИЯ, ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ, ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯРИЗОВАННЫХ СПЕКТРОВ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ, ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ
Объектом исследования являются тонкие пленки магний-алюминиевой шпинели на диэлектрических подложках Al2O3 и SiO2.
Цель работы – разработка методики измерения тонких пленок методом конфокальной спектроскопии комбинационного рассеяния света, получение информации о структуре и динамике решетки пленок.
В работе используются методы спектроскопии комбинационного рассеяния света, электронной микроскопии, рентгеновской дифракции под скользящим углом.
В результате исследования впервые получены спектры комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции тонких пленок магний-алюминиевой шпинели, нанесенные методом высокотемпературного испарения керамики.
Результаты исследования применимы в области электроники для проектирования различных физических установок.
СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА, ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ПОКРЫТИЯ, ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ, ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯРИЗОВАННЫХ СПЕКТРОВ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ, ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ
Объектом исследования являются тонкие пленки магний-алюминиевой шпинели на диэлектрических подложках Al2O3 и SiO2.
Цель работы – разработка методики измерения тонких пленок методом конфокальной спектроскопии комбинационного рассеяния света, получение информации о структуре и динамике решетки пленок.
В работе используются методы спектроскопии комбинационного рассеяния света, электронной микроскопии, рентгеновской дифракции под скользящим углом.
В результате исследования впервые получены спектры комбинационного рассеяния света и фотолюминесценции тонких пленок магний-алюминиевой шпинели, нанесенные методом высокотемпературного испарения керамики.
Результаты исследования применимы в области электроники для проектирования различных физических установок.