Способы обеспечения надежности современ-ных динамических микросхем памяти

Хомутов Константин Игоревич

Аннотация


Ключевые слова: Оперативное запоминающее устройство,
динамическая структура, надежность, радиационный фон, обнаружение
ошибок, исправление одиночных ошибок, помехозащищенное кодирование,
тестирование памяти, количественные показатели, моделирование,
Matlab/Simulink, настройка блоков.
Целью выпускной квалификационной работы является изучение
влияния внешних факторов на надежность хранения данных в микросхемах
динамической оперативной памяти, а также разработка модели оперативного
динамического запоминающего устройства, на которой будет возможным
проводить моделирование испытаний и тестирования микросхем памяти.
Результатом исследования является построение модели ячейки
динамической памяти (на базе программного комплекса Matlab/Simulink) на
фоне влияния естественного радиационного излученияи и исследования
влияния помехоустойчивого кодирования на надежность хранения
информации.
Новизна работы состоит в том, что впервые в среде визуального
моделирования MATLAB/Simulink построена модель ячейки динамической
памяти.