Синтез, исследование структуры и электросопротивления поли- и монокристаллов MnBiTe
Аннотация
Выпускная квалификационная работа выполнена на тему «Синтез, исследование структуры и электросопротивления поли- и монокристалла MnBi2Te4». Исследования выполнялись в Федеральном государственном бюджетном учреждении науки Институте физики металлов имени М. Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук.
Целью данной работы является синтез, исследование структуры и электросопротивления моно- и поликристаллов антиферромагнитного топологического изолятора MnBi2Te4.
В ходе работы были изучены методы синтеза кристаллов антиферромагнитного топологического изолятора MnBi2Te4. Исследована структура полученных моно- и поликристаллов MnBi2Te4 методом рентгеноструктурного анализа, а также с помощью сканирующей электронной микроскопии. Проведено исследование электросопротивления моно- и поликристалла.
Результаты исследований показали, что ТИ имеет слоистую структуру. Температурная зависимость электросопротивления монокристалла в плоскости слоев имеет «металлический» вид, то есть увеличивается с ростом температуры от 0,11 мОм·см до 0,29 мОм·см, что на порядок меньше величины электросопротивления перпендикулярно слоям, которое увеличивается с ростом температуры от 4,9 мОм·см до 7,8 мОм·см.
При этом температурная зависимость электросопротивления поликристалла также имеет «металлический» вид, изменяясь с температурой от 3,8 мОм·см до 4,35 мОм·см, что больше, чем величина электросопротивления монокристалла в плоскости слоев, но меньше, чем электросопротивление перпендикулярно плоскости слоев
Целью данной работы является синтез, исследование структуры и электросопротивления моно- и поликристаллов антиферромагнитного топологического изолятора MnBi2Te4.
В ходе работы были изучены методы синтеза кристаллов антиферромагнитного топологического изолятора MnBi2Te4. Исследована структура полученных моно- и поликристаллов MnBi2Te4 методом рентгеноструктурного анализа, а также с помощью сканирующей электронной микроскопии. Проведено исследование электросопротивления моно- и поликристалла.
Результаты исследований показали, что ТИ имеет слоистую структуру. Температурная зависимость электросопротивления монокристалла в плоскости слоев имеет «металлический» вид, то есть увеличивается с ростом температуры от 0,11 мОм·см до 0,29 мОм·см, что на порядок меньше величины электросопротивления перпендикулярно слоям, которое увеличивается с ростом температуры от 4,9 мОм·см до 7,8 мОм·см.
При этом температурная зависимость электросопротивления поликристалла также имеет «металлический» вид, изменяясь с температурой от 3,8 мОм·см до 4,35 мОм·см, что больше, чем величина электросопротивления монокристалла в плоскости слоев, но меньше, чем электросопротивление перпендикулярно плоскости слоев