Исследование влияния облучения ионами аргона с энергией 10 кэВ на магнитосопротивление сверхрешеток Fe/Cr и CoFe/Cu
Аннотация
Выпускная квалификационная работа бакалавра содержит 48 страниц, 31 рисунок, 6 таблиц, 55 источников.
ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ, МАГНИТОСОПРОТИВЛЕНИЕ, ГИГАНТСКИЙ МАГНИТОРЕЗИСТИВНЫЙ ЭФФЕКТ, МАГНИТНЫЕ СВЕХРЕШЕТКИ, РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
Объект исследования: магнитные сверхрешетки CoFe/Cu и FeCr.
Цель работы: исследовать влияние облучения ионами Ar+ с энергией 10 кэВ на магнитосопротивление модельных сверхрешеток Fe/Cr и сверхрешеток CoFe/Cu (с различными подложками).
Облучение образцов проводились на установке для ионно−лучевой обработки ИЛМ−1 с использованием ионного источника ПУЛЬСАР−1М в лаборатории пучковых воздействий Института электрофизики УрО РАН.
Метод исследования: определение электросопротивления образцов на установке АВМ−1 «Центра технологий новых магнитных материалов» ИФМ УрО РАН.
В результате проведенных исследований получены закономерности изменения магнитосопротивления сверхрешеток Fe/Cr и CoFe/Cu в зависимости от флюенса ионов аргона, а также от типа сверхрешетки.
Полученная информация может быть использована для дальнейшего изучения радиационной стойкости материалов, служащих элементами электронных схем.
ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ, МАГНИТОСОПРОТИВЛЕНИЕ, ГИГАНТСКИЙ МАГНИТОРЕЗИСТИВНЫЙ ЭФФЕКТ, МАГНИТНЫЕ СВЕХРЕШЕТКИ, РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
Объект исследования: магнитные сверхрешетки CoFe/Cu и FeCr.
Цель работы: исследовать влияние облучения ионами Ar+ с энергией 10 кэВ на магнитосопротивление модельных сверхрешеток Fe/Cr и сверхрешеток CoFe/Cu (с различными подложками).
Облучение образцов проводились на установке для ионно−лучевой обработки ИЛМ−1 с использованием ионного источника ПУЛЬСАР−1М в лаборатории пучковых воздействий Института электрофизики УрО РАН.
Метод исследования: определение электросопротивления образцов на установке АВМ−1 «Центра технологий новых магнитных материалов» ИФМ УрО РАН.
В результате проведенных исследований получены закономерности изменения магнитосопротивления сверхрешеток Fe/Cr и CoFe/Cu в зависимости от флюенса ионов аргона, а также от типа сверхрешетки.
Полученная информация может быть использована для дальнейшего изучения радиационной стойкости материалов, служащих элементами электронных схем.