Просвечивающая электронная микроскопия тонких пленок на основе некоторых пниктогенов
Аннотация
Цель работы: Методами просвечивающей электронной микроскопии исследовать особенности микроструктуры кристаллов в тонких пленках пниктогенов (азота, сурьмы).
В работе использованы несколько различных методов электронной микроскопии: прямое разрешение кристаллической решетки, микродифракция, режимы светлого и темного поля, анализ дифракционного контраста в виде изгибных экстинкционных контуров.
Выпускная работа включает в себя анализ полученных снимков тонких пленок.
Проводится подробное описание основных методик анализа. Предложены варианты идентификации экстинкционных контуров и измерений в них. Получены результаты по
анализу внутреннего изгиба микрокристаллов сурьмы, говорящие об увеличении внутреннего искривления решетки с уменьшением толщины. Также построена карта
наиболее часто встречающихся ориентировок в виде стереографической проекции, которая может быть использована в дальнейших исследованиях.
В работе использованы несколько различных методов электронной микроскопии: прямое разрешение кристаллической решетки, микродифракция, режимы светлого и темного поля, анализ дифракционного контраста в виде изгибных экстинкционных контуров.
Выпускная работа включает в себя анализ полученных снимков тонких пленок.
Проводится подробное описание основных методик анализа. Предложены варианты идентификации экстинкционных контуров и измерений в них. Получены результаты по
анализу внутреннего изгиба микрокристаллов сурьмы, говорящие об увеличении внутреннего искривления решетки с уменьшением толщины. Также построена карта
наиболее часто встречающихся ориентировок в виде стереографической проекции, которая может быть использована в дальнейших исследованиях.